解决：ADC内部参考电压采样数据异常

bert

AD采样数据异常反馈：使用R7FA2E1A72DFL 最小系统板进行AD采样，参考电压为内部基准电压，采集0.8~0.9v之间的数据全都是0xA00

1，在e2 studio环境下仿真，选择AD00作为采样通道，使用直流电源，逐渐增大电压，记录AD采样值，结果如下：

采集电压	AD值
0.804	2560
0.822	2560
0.842	2560
0.864	2560
0.891	2560
0.912	2560
0.931	2560

当电压大于0.8v且小于0.97v时，AD采样值全部都是2560（0xA00），

当电压小于0.8v或者大于0.97v时，采样数据正常。

2，然后又把AD通道：0，1，2，5，6，7，8，9全部采集一遍数据，结果与上述一样，

3，把参考电压改为AVCC或VCC时，采样数据正常。

分析：参考电压为vcc的时候采样全部正常，只有内部基准电压作为参考电压的时候，采样电压为0.8~0.9v之间时，所有采样结果都是0XA00（2560），

通道0，1，2，5，6，7，8，9后，发现采样区间为0.8~0.9v时，采样数据均为0xA00。改用vcc做参考电压采样数据正常。

判断为FSP生成的代码问题，与芯片无关。

解决方法：

1，在工程中ra文件夹下，按照ra-->fsp-->src-->r_adc，可以找到r_adc.c文件，其中的API“r_adc_open_sub”中，有以下一段代码。

代码：

#if BSP_FEATURE_ADC_HAS_ADHVREFCNT

    /* If the internal voltage is set as VREFH, discharge the VREF node for 1 us before setting ADHVREFCNT.HVSEL to 2.

     * Reference section 35.7 "A/D Conversion Procedure when Selecting Internal Reference Voltage as High-Potential

     * Reference Voltage" in the RA4M1 manual R01UH0887EJ0100.

     *

     * Also wait 5 us before using the ADC. This wait is the responsibility of the application. */

    if (ADC_PRV_ADHVREFCNT_VREF_INTERNAL_BIT_1 & p_cfg_extend->adc_vref_control)

    {

        p_instance_ctrl->p_reg->ADHVREFCNT = (uint8_t) (p_cfg_extend->adc_vref_control | R_ADC0_ADHVREFCNT_HVSEL_Msk);

        R_BSP_SoftwareDelay(1U, BSP_DELAY_UNITS_MICROSECONDS);

    }

    p_instance_ctrl->p_reg->ADHVREFCNT = (uint8_t) p_cfg_extend->adc_vref_control;

#endif

如注释内容，使用内部参考电压座位VREFH时，将 ADHVREFCNT.HVSEL 设置为 2 之前需要对VREF 节点进行放电。经**，这里1us的时间可能不太够，

所以将这个延迟时间从1us改为10us，就可以得到正确的AD转换结果了。

R_BSP_SoftwareDelay(10U, BSP_DELAY_UNITS_MICROSECONDS);

2，用内部参考电压的时候需要在AD低电流模式，

当内部参考电压选择为高电位参考电压(HVSEL[1:0] = 10b)时，只能工作在低电流模式(ADCSR。ADHSC = 1)。

3，R_ADC0->ADCSR_b.ADST = 1;//注意，需要用操作寄存器方式来启动AD

bert

MCU性能是值得信赖的，FSP生成代码需要兼容所有系列，难免会有小纰漏，以后版本会优化掉的，请放心食用